ICT测试常见异常解决方案

ICT测试常见异常解决方案（精选2篇）

篇1：ICT测试常见异常解决方案

ICT测试常见异常解决方案

一、当测试员把ICT治具装好后,发现测试不良连续2 PCS以上应首先检查：

1、ICT程式是否选用正确，确认是否有升版，ECN，重工单，暂代料等；

2、排线是否插正确，对号入座；

3、所测试PCB板是否曾经过功能测试而没放电的板子，如没放电则烧坏ICT开关板；

4、ICT压床是否完全压到位，检查ICT气压是否在4—6Pa之间。

二、零件不良：

1、查看所有不良零件测试的高低点的位置是否有许多相同的，相同：A、则寻找相应有排插是否良好后再重新插好；

B、寻找相对应的探针是否有异物、氧化、变形、断针等。如有则清理好及更换新探针。不同：A、小电容&热敏电阻受温度影响，其测试值偏低，应加强冷确方法；

B、个别零件测试不稳定，及时通知ICT工程师进行调试。

三、短路不良：

1、ICT治具护板上以及各探针之间是否有锡渣，铜丝等。应及时清理好；

2、ICT治具底部针套是否有被压断（出现开路不良）压弯倒一起（出现短路不良）；

3、若是相邻两点短路不良，检查针点是否变形或靠在一起，见意换成小尖针。

四、开路不良：

1、算出相应针点的排插序号（用开路针点号除以32，有小数点都进1位，如100/32=3。125 就是第四号排线。）重新插好。多次插拔仍开路，则用ICT探针笔测试其排插是否为良品,如不良排线进行更换；

2、检查其针点表面是否有异物，探针是否完全陷下去，已失去弹性等，应及时更换探针。

PS：如果以上问题没有能够及时解决，请尽快找ICT工程师进行处理。测试员不能擅自改动ICT测试程式。

篇2：ICT测试常见异常解决方案

1． 探针不可及的零件。

2． 小电容并联大电容（C1//C2），小电容不可测。一般而言，C2的容值是C1的10倍以上，C1不可测。

3． 大电阻并联小电阻（R1//R2），大电阻不测。一般而言，如何R1的容值是R2的20倍以上，则R1不可测。两电阻并联后，其阻值比小电阻略小，这是大电阻缺件不可测。同理，与跳线并联的电阻也不可测。

4． 小电阻过小，无法准确测试。虑及探针接触电阻，排线连接器等电阻的影响，故上限要放宽。

5． 同一铜箔上的跳线以及相并联的跳线漏件不可测。

6． 大电阻并联大电容，大电阻无法准确测试。要考虑两个影响因素，一个是电容的充电时间较长，要等显示值稳定之后读数，另外，假若电阻的阻值较大，则电容的漏电电阻不能忽略，测定的阻值可能比电阻的实际阻值小。实际调试时才能判断是否可测。7． 小电容并联小电阻，小电容不可测。