ICT测试常见异常解决方案(精选2篇)
篇1:ICT测试常见异常解决方案
ICT测试常见异常解决方案
一、当测试员把ICT治具装好后,发现测试不良连续2 PCS以上应首先检查:
1、ICT程式是否选用正确,确认是否有升版,ECN,重工单,暂代料等;
2、排线是否插正确,对号入座;
3、所测试PCB板是否曾经过功能测试而没放电的板子,如没放电则烧坏ICT开关板;
4、ICT压床是否完全压到位,检查ICT气压是否在4—6Pa之间。
二、零件不良:
1、查看所有不良零件测试的高低点的位置是否有许多相同的,相同:A、则寻找相应有排插是否良好后再重新插好;
B、寻找相对应的探针是否有异物、氧化、变形、断针等。如有则清理好及更换新探针。不同:A、小电容&热敏电阻受温度影响,其测试值偏低,应加强冷确方法;
B、个别零件测试不稳定,及时通知ICT工程师进行调试。
三、短路不良:
1、ICT治具护板上以及各探针之间是否有锡渣,铜丝等。应及时清理好;
2、ICT治具底部针套是否有被压断(出现开路不良)压弯倒一起(出现短路不良);
3、若是相邻两点短路不良,检查针点是否变形或靠在一起,见意换成小尖针。
四、开路不良:
1、算出相应针点的排插序号(用开路针点号除以32,有小数点都进1位,如100/32=3。125 就是第四号排线。)重新插好。多次插拔仍开路,则用ICT探针笔测试其排插是否为良品,如不良排线进行更换;
2、检查其针点表面是否有异物,探针是否完全陷下去,已失去弹性等,应及时更换探针。
PS:如果以上问题没有能够及时解决,请尽快找ICT工程师进行处理。测试员不能擅自改动ICT测试程式。
篇2:ICT测试常见异常解决方案
1. 探针不可及的零件。
2. 小电容并联大电容(C1//C2),小电容不可测。一般而言,C2的容值是C1的10倍以上,C1不可测。
3. 大电阻并联小电阻(R1//R2),大电阻不测。一般而言,如何R1的容值是R2的20倍以上,则R1不可测。两电阻并联后,其阻值比小电阻略小,这是大电阻缺件不可测。同理,与跳线并联的电阻也不可测。
4. 小电阻过小,无法准确测试。虑及探针接触电阻,排线连接器等电阻的影响,故上限要放宽。
5. 同一铜箔上的跳线以及相并联的跳线漏件不可测。
6. 大电阻并联大电容,大电阻无法准确测试。要考虑两个影响因素,一个是电容的充电时间较长,要等显示值稳定之后读数,另外,假若电阻的阻值较大,则电容的漏电电阻不能忽略,测定的阻值可能比电阻的实际阻值小。实际调试时才能判断是否可测。7. 小电容并联小电阻,小电容不可测。
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